مصدر الأشعة السينية الدقيقة

تم تصميم مصدر الشعاع الخاص بنا microfocus x - بشكل خاص لفحص الدقة العالي- للمكونات الإلكترونية والتجميعات.
مع الحد الأقصى لجهد أنبوب يبلغ 90 كيلو فولت وتيار أنبوب يصل إلى 200µA ، فإنه يوفر التصوير الواضح والعالي - لاكتشاف العيوب الداخلية في لوحات الدوائر ، أشباه الموصلات ، وغيرها من المواد الكثيفة. يعمل النظام على جهد إدخال 24 فولت ، مما يضمن أداء مستقر وفعال في البيئات الصناعية.
تم تحسينه لتطبيقات microfocus ، يوفر مصدر الأشعة X - صورًا حادة مع الحد الأدنى من التشويه ، مما يجعله مناسبًا بشكل خاص لفحص مفصل اللحام ، والكشف عن الكراك الداخلي ، وتحديد العيوب الهيكلية المخفية. يتيح تصميمه المدمج التكامل السهل في أنظمة فحص ثنائي الفينيل متعدد الكلور مع الحفاظ على الإخراج المستقر. مزيج من طاقة الاختراق 90kV وحجم بقعة الدقيقة الدقيقة يقلل بشكل فعال من وقت التفتيش.

لدينا microfocus x - مصدر شعاع (الجهد التشغيل 40-90KV) هو أداة متعددة الاستخدامات مصممة لفحص بدقة عالية- للمكونات الإلكترونية والأجزاء المعدنية. يتم تطبيقه على نطاق واسع في تحليل PCB واللوحة الأم ، وكذلك في Die - التفتيش للهاتف المحمول والسيارات والفضاء. يظهر على اليمين مثالًا على Die - الأجزاء المصبوبة من بئر - الشركة المصنعة المعروفة للهاتف المحمول. مع هذا النظام ، يمكن تحديد العيوب مثل الشقوق والمسام وتجويف الانكماش وتوزيع المواد غير المتكافئة والعيوب الهيكلية الداخلية بوضوح.

يوفر المصدر تيارًا أقصى أنبوب يبلغ 200µA ، مدعومًا بجهد إدخال 24V مستقر ، مما يضمن تشغيل موثوق حتى في البيئات الصعبة. ينتج تصميم Microfocus الخاص به صورًا حادة ، تشويهًا - ، مما يمكّن المهندسين من تحليل الاختلافات الهيكلية الدقيقة بدقة. بالنسبة للتطبيقات الإلكترونية ، فهي فعالة بشكل خاص في فحص مفصل اللحام ، وتحليل رقاقة BGA ، وتعبئة أشباه الموصلات. بالنسبة للأجزاء المعدنية ، يتيح تغلغله القوي الملاحظة العميقةبدونالمساومةوضوح الصورة.

من خلال تصميمه المضغوط ، يسهل دمج مصدر RAY 40-90KV X - في أنظمة التفتيش ، مما يوفر للمصنعين حلًا قويًا لمراقبة الجودة ، والبحث والتطوير ، وتحليل الفشل. من خلال الجمع بين تفاصيل التركيز الدقيق واختراق قوي ، فإنه يعزز موثوقية التفتيش مع تقليل وقت التفتيش بشكل كبير.